產品分類 PRODUCTS
產品詳情
簡單介紹：
Chroma 大面積光偵測器
全新且獨特之 LED 全光通量量測方式
手動精密LED wafer/chip 點測設備
提供全方位電性測試平臺
詳情介紹：
硬設備
Chroma 58173-M 是全新獨特的量測LED全光通量之手動測試設備。在LED的裸晶與晶粒測試生產線中，常見使用部份光通量來取代全光通量之量測方式 (見圖1) 。然而，傳統的量測方式存在一些缺點，例如: 準確度較低、訊噪比較低、與測試時間較長等，以致于導入LED wafer/chip 生產線時會發生問題。
Chroma 58173-M 研發出一種高速精準的LED全光通量的量測方式 (見圖 2)。 這種**方式不僅比傳統方式收集更多的LED部分光通量，也明顯提升了量測**度。
在光學量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可透過 Chroma 獨特之光學設計與組件取得**、穩定、快速之數據；在機構方面，58173-M 搭載一個6吋之芯片載盤與校正基座，提供使用者一個完整的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173-M 提供一個完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一次滿足使用者的測試需求。